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孚光精仪(中国)有限公司


经营模式:经销商

商铺产品:1426条

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联系人:陈小姐 (销售)

  • 微型台式扫描电镜

    详细摘要: 微型台式扫描电镜是结构紧凑的科研SEM,桌面型的扫描电镜购置使得它非常适合各种SEM图像获取应用

    产品型号:FPSER-AURA100所在地:更新时间:2023-09-12 在线留言

  • 电镜原位等离子体清洁器

    详细摘要: 电镜原位等离子体清洁器EM-KLEEN可用于电子显微镜和分析仪器(如SEM、FIB、TEM、XPS和SIMS)的样品和真空室的原位清洁

    产品型号:FPPIE-EM-KLEEN所在地:更新时间:2023-09-12 在线留言

  • 四探针方块电阻测量仪

    详细摘要: 四探针方块电阻测量仪是为SheetResistivity薄层电阻率测量设计的四点探针电阻测量仪器,满足各种材料的薄层电阻率测量,包括IV族半导体、金属和化合物半...

    产品型号:FPTOH-4PP所在地:更新时间:2023-09-12 在线留言

  • 薄膜测厚仪

    详细摘要: 薄膜测厚仪TohoSpec3100是高精度薄膜厚度测量系统,采用小光斑光谱反射计获得薄膜厚度信息,可靠的固态线性二极管阵列可快速、精确地测量单层薄膜,如氧化物、...

    产品型号:FPTOH-TOHOSPEC3100所在地:更新时间:2023-09-12 在线留言

  • 薄膜应力测量仪

    详细摘要: 薄膜应力测量仪TohoFLX提供热循环和环境自动旋转型号,可对各种薄膜和衬底进行准确的应力测量,确定和分析沉积薄膜引起的表面应力

    产品型号:FPTOH-FLX所在地:更新时间:2023-09-12 在线留言

  • 3D光学轮廓仪

    详细摘要: 3D光学轮廓仪是具有白光干涉和相移干涉技术的表面形貌仪,具有高扫描速度,垂直分辨率高达亚纳米0.1nm,从而具有三维台阶仪功能

    产品型号:FPNAN-NV所在地:更新时间:2023-09-12 在线留言

  • 形貌轮廓激光显微镜

    详细摘要: 形貌轮廓激光显微镜是采用激光显微镜技术的表面轮廓形貌仪器,具有白光共聚焦,激光共聚焦,差分干涉对比,白光干涉,相移干涉法和光谱反射薄膜厚度测量6种表面形貌轮廓测...

    产品型号:FPLAS-Hybrid所在地:更新时间:2023-09-12 在线留言

  • 扫描探针显微镜 显微镜/望远镜

    详细摘要: 这款多功能扫描探针显微镜SPM是欧盟革命性的高分辨率扫描探针显微镜和SPM显微镜,具有目前为紧凑结构,是进口扫描探针显微镜品牌,SPM显微镜品牌中扫描探针显微镜...

    产品型号:FPAPE-SPM所在地:更新时间:2023-04-13 在线留言

  • 原子力显微镜 显微镜/望远镜

    详细摘要: 这款原子力显微镜AFM,AtomicForceMicroscope具有SPM显微镜模式,是进口高精度原子力显微镜品牌中原子的AFM显微镜产品

    产品型号:FPAPE-AFM-A100所在地:更新时间:2023-04-13 在线留言

  • 扫描隧道显微镜 显微镜/望远镜

    详细摘要: 这款紧凑扫描隧道显微镜STM是探索不同材料表面以原子尺度分辨率测试纳米表面形貌和光谱信息的有力STM显微镜工具

    产品型号:FPAPE-STM所在地:更新时间:2023-04-13 在线留言

  • 高速原子力显微镜 显微镜/望远镜

    详细摘要: 高速原子力显微镜是专业为科研单位设计的经济型多功能AFM显微镜,它适合所有应用并给出磁力显微镜模式,电力显微镜模式,纳米光刻模式,弹性力显微镜模式等*功能,在进...

    产品型号:FPANF-LevelAFM所在地:更新时间:2023-04-13 在线留言

  • LCD驱动芯片检测系统 芯片检测仪

    详细摘要: LCD驱动芯片检测系统和LCD驱动芯片视觉检测系统快速发现LCDDriverIC缺陷,由孚光精仪进口销售,孚光精仪的进口光学精密仪器旗舰型服务商!精通光学,服务...

    产品型号:LCD-AVI所在地:更新时间:2023-04-01 在线留言

  • 光学镀膜检测仪

    详细摘要: 光学镀膜检测仪PHOTONRTUV-VIS-MWIR是为光学镀膜分析检测设计的镀膜扫描分光光度计,满足光学样品的无人值守薄膜测量

    产品型号:FPESS-Photon RT所在地:更新时间:2023-03-30 在线留言

  • 晶圆光致发光和缺陷检测系统

    详细摘要: 晶圆光致发光和缺陷检测系统Imperia系统可检测并分类晶圆缺陷,实现光致发光(PL)生产监控

    产品型号:FPONT-Imperia所在地:更新时间:2023-03-30 在线留言

  • 全波段光致发光测量系统

    详细摘要: 全波段光致发光测量系统RPMBlue系统是为半导体化合物衬底晶圆光致发光检测而涉及,在整个波长范围内提供准确的PL光谱mapping计量,可用于GaNFET和U...

    产品型号:FPONT-RPMBlue所在地:更新时间:2023-03-30 在线留言

  • 晶圆测厚仪

    详细摘要: 这款晶圆测厚仪MX30x是为半导体晶圆特性测量设计的进口晶圆厚度测量仪器,可快速测量晶圆厚度,晶圆电阻率和晶圆P/N等值

    产品型号:FPEH-metrology所在地:更新时间:2023-03-30 在线留言

  • 高分辨率晶圆厚度和厚度变化测量仪

    详细摘要: 高分辨率晶圆厚度和厚度变化测量仪MX10x系列是E+Hmetrology测量硅片厚度和TTV厚度变化的仪器

    产品型号:FPEH-MX10x所在地:更新时间:2023-03-30 在线留言

  • 多功能晶圆翘曲度测量仪

    详细摘要: 这款多功能晶圆翘曲度测量仪是为晶圆生产线上自动晶圆翘曲度测量设计的大型自动晶圆测量仪器,具有晶圆厚度测量,晶圆翘曲度测量,晶圆BOW/WARP测量,晶圆wave...

    产品型号:FPEH-MX70X所在地:更新时间:2023-03-30 在线留言

  • 晶圆分拣机器人

    详细摘要: 晶圆分拣机器人是为大尺寸晶圆硅片分拣分选设计的自动晶圆分拣机系统,可分选高达12尺寸晶圆

    产品型号:FPEH-Robot Sorter所在地:更新时间:2023-03-30 在线留言

  • 带式晶圆分选机

    详细摘要: 带式晶圆分选机beltsorter是专业为晶圆硅片分选设计的皮带式晶圆硅片分选机,可适合8晶圆分选分拣,非常适合晶圆硅片的生产测试

    产品型号:FPEH+beltsorter所在地:更新时间:2023-03-30 在线留言

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